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2019年12月20日発売

日科技連出版社

信頼性試験技術

信頼性技術叢書
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内容紹介
本書は、信頼性・安全性トラブルの未然防止に役立つ、信頼性試験の最新の実践的な技術や理論について、多くの図表を用いてわかりやすく解説するものである。
 第1章から第7章で、信頼性試験の前提となる知識や、基本の全体像、信頼性試験技術の各論を解説している。それに加えて、第8章「信頼性試験のフロンティア」として、最新の研究を取り上げている。また、第9章「信頼性試験運用上の留意点」として、信頼性試験を計画し、実施しようとする技術者が活用できる、著者らの実務経験から整理した留意点や避けるべき落とし穴などについて解説している。
目次
第1章 信頼性の基礎
第2章 故障物理モデルと故障解析
第3章 信頼性データ解析の要点
第4章 信頼性試験の概念と進め方
第5章 加速試験
第6章 信頼性抜取試験
第7章 信頼性スクリーニングと信頼度成長試験
第8章 信頼性試験のフロンティア
第9章 信頼性試験運用上の留意点
著者略歴
益田 昭彦(マスダ アキヒコ masuda akihiko)
益田昭彦 1940年生まれ。 電気通信大学大学院博士課程 修了。工学博士。 日本電気(株)にて通信装置の生産技術、品質管理、信頼性技術に従事(本社主席技師長)。帝京科学大学教授、同大学大学院主任教授、日本信頼性学会副会長、IEC/TC56信頼性国内専門委員会委員長などを歴任。 現在、信頼性七つ道具(R7)実践工房 代表、技術コンサルタント。
鈴木 和幸(スズキ カズユキ suzuki kazuyuki)
鈴木和幸 1950年生まれ。 東京工業大学大学院博士課程 修了。工学博士。 電気通信大学 名誉教授、同大学大学院情報理工学研究科 特任教授。
原田 文明(ハラダ フミアキ harada fumiaki)
原田文明 1954年生まれ。 東京理科大学卒業。 富士ゼロックス(株)で品質保証、試験法開発、信頼性管理などに従事。 現在、D-Techパートナーズ代表、東京理科大学非常勤講師、日科技連信頼性講座「信頼性試験」講師、IEC TC56(ディペンダビリティ)専門委員、同国内委員会WG2(技法)主査。
山 悟(ヤマ サトル yama satoru)
山悟 1949年生まれ。 国立旭川工業高等専門学校電気工学科卒。 現在、日本科学技術連盟信頼性セミナー講師。
横川 慎二(ヨコガワ シンジ yokogawa shinji)
横川慎二 1970年生まれ。 電気通信大学大学院博士前期課程修了。 現在、電気通信大学 i-パワードエネルギー・システム研究センター、同大学大学院情報理工学研究科、同大学情報理工学域 教授、博士(工学)。
タイトルヨミ
カナ:シンライセイシケンギジュツ
ローマ字:shinraiseishikengijutsu

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日科技連出版社の既刊から
丸山昇/著 金子雅明/著 飯塚悦功/著
米岡俊郎/著 中村聡/著
細谷克也/著・編集 稲葉太一/著 竹士伊知郎/著 西敏明/著 吉田節/著 和田法明/著
QCサークル千葉地区/編集 山本泰彦/監修 猿渡直樹/著・編集 井上研治/著 浦邉彰/著 ほか
本日のピックアップ
北大路書房:ジョン・ハッティ グレゴリー・イエーツ 原田信之 
金子書房:江川玟成 
マイナビ出版:株式会社メンバーズ 福島信 鶴田純也 村上大典 廣瀬竜也 吉田隼 ほか

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